
この商品の詳細
- 出版社
- シーエムシー出版
- 出版社シリーズ
- ISBN
- 4781304793
- サイズ
- 単行本
- 発売年月日
- 2012年05月01日
この商品の紹介
パラメータ測定から信頼性試験および故障解析まで、半導体材料・デバイスの研究開発にかかわる試験、解析、評価の手法を網羅。演習問題も収録。索引付き。
半導体材料・デバイスの評価/単行本
800
円(税込)
パラメータ測定から信頼性試験および故障解析まで、半導体材料・デバイスの研究開発にかかわる試験、解析、評価の手法を網羅。演習問題も収録。索引付き。
半導体材料・デバイスの評価/単行本
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半導体材料・デバイスの評価
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